IE200M倒置金相显微镜

IE200M倒置金相显微镜是一款专为材料微观分析设计的高性能仪器，广泛应用于金属、合金、陶瓷、地质矿物等领域的金相组织观察与分析。其倒置式设计突破传统正置显微镜的局限，支持大尺寸、重载样品的检测，尤其适合工厂实验室和科研场

二、核心结构与技术特点

1. 光学系统

• 有限远色差校正系统：确保高分辨率成像，物镜与目镜组合优化，减少色差，提升图像清晰度

• 落射柯拉照明：配备可变孔径光阑和中心可调视场光阑，支持LED或卤素灯照明，光强连续可调，适应不同样品需求

2. 调焦与载物台

• 低手位粗微调同轴机构：粗调行程38mm，微调精度0.002mm，操作便捷且稳定性高

• 大尺寸机械移动平台：180×155mm载物台，行程75mm×40mm，支持右手位控制，适合高效样品定位

3. 观察与成像

• 三目观察筒：45°倾斜设计，瞳距调节范围54-75mm，分光比80:20，支持目视观察与摄像同步

• 摄像扩展：兼容0.5X/1X摄像接筒、C型接口，可连接数码相机或金相分析软件，实现图像采集与分析

三、关键参数

四、应用场景

1. 材料分析：金属热处理组织检测、铸件质量鉴定、半导体硅晶片缺陷分析

2. 科研教学：高校金相实验、地质岩相研究、生物医学微观结构观察