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彩谱超大幅面雾度透过率检测系统

产品型号：
产品时间：2024-01-09
简要描述：彩谱超大幅面雾度透过率检测系统
测量光源：CIE-A、CIE-C、CIE-D65
光谱范围：400-700nm
◆：测量平行平面材料的雾度、总透过率、光谱投射性能及色度LAB参数

彩谱超大幅面雾度透过率检测系统

超大幅面屏幕雾度透光率检测系统-图一.png

这是一台设计用于测定塑料、薄膜、玻璃制品、LCD面板等透明、半透明平行平面材料的雾度、总透光率、光谱透射性能以及色度Lab参数的设备。

一、产品特性介绍：

1. 具备超大幅面载物平台，可完成超大幅面样品的测试，大可支持2.6*1.6m样品上每个点的测试。

2. 具备超大幅面载物平台，并具备气浮功能，大可承受200KG的样品在平台表面轻松移动，使超大超重的样品测试起来轻松方便。

3. 具备翻转上料功能，平台分为两部分，一部分固定不动，另一部分可进行翻转，翻转好后，样品可放置到翻转后的平台上，再翻转回水平位置，方便超大超重的样品运送到平台上测试。

4. 采用一体机电脑作为显示屏，拥有良好的人机交互界面。

5. 符合以下测试标准：GB/T 2410标准、ASTM D 1003标准。

6. 满足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种标准照明光源下的雾度与全透过率以及Lab测量。

7. 提供专业的雾度以及透过率的测量分析软件，可以满足用户对测试数据的分析以及管理。

二、产品细节

三、产品参数：

彩谱超大幅面雾度透过率检测系统